Расчет надежности

Интенсивность отказов l характеризуется отношением числа изделий в единицу времени к числу изделий, продолжающих оставаться исправными к началу рассматриваемого промежутка времени:

где m - число изделий, отказавших за время t,- число исправно работающих изделий к началу промежутка времени.

Если предположить, что отказы различных элементов взаимно независимы и каждый отказ носит катастрофический характер, то есть полностью нарушают работоспособность, то интенсивность отказов устройства равна сумме интенсивностей отказов элементов, составляющих устройство:

где li - интенсивность отказов элементов i-го типа,- количество элементов i-го типа входящего в устройство.

Наработка на отказ равна:

Интенсивность отказов элементов следующая:

микросхемы - 0.85×10-6 (ч-1),

резисторы - 0.9×10-6 (ч-1),

конденсаторы - 1.4×10-6 (ч-1).

Тогда,

(ч-1)

Поскольку не учтена интенсивность отказа некоторых элементов примем что наработка на отказ составит около 30 000 часов. Такую надежность устройства можно считать приемлемой.

Читайте также

Программно-аппаратный комплекс, позволяющий проводить эксперименты по одновременному управлению несколькими мобильными объектами
В настоящее время в области искусственного интеллекта (ИИ) происходят заметные преобразования. Источниками этих преобразований служат распределенный искусственный интеллект (РИИ), центра ...

Применение пространственной фильтрации для улучшения радиоголографических изображений объектов, находящихся за препятствиями
В настоящее время активно развивается раздел науки, посвященный радиовидению. Это связано с тем, что радиовидение может найти свое применение в широкой сфере деятельности человека для об ...

Разработка компьютерной сети по технологии Token Ring c STP с подключением к Интернет
Организация компьютерных сетей: Назначение КС - КС используется для объединения ПК, программно-аппаратных комплексов и связующих линий, обеспечивающих обмен информации. КС использует ...